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LaiPen LP100葉面積指數(shù)測量儀

用途：LaiPen LP 110用于測量闊葉冠層的葉面積指數(shù)（Leaf Area Index，LAI）。葉面積指數(shù)是指單位土地面積上植物葉片總面積占土地面積的倍數(shù)。即：葉面積指數(shù)=葉片總面積/土地面積。 測量原理：LaiPen LP 110使用廣角光學(xué)傳感器計(jì)...

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TRAC PLUS植物冠層分析儀

用途：葉面積指數(shù)（LAI）是在生態(tài)學(xué)與氣候?qū)W中是重要的生物物理參數(shù)，在生態(tài)學(xué)及氣候?qū)W領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。TRAC PLUS植物冠層分析儀采用獨(dú)特的創(chuàng)新技術(shù)，在冠層下方沿著橫斷面測定光合有效輻射分量，然后將之轉(zhuǎn)換為林隙分布分?jǐn)?shù)，從而計(jì)算出葉面積指數(shù)等其它參數(shù)。...

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SunScan無線電版植物冠層分析儀

用途：SunScan無線電版植物冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan冠層分析系統(tǒng)不需要等待特殊的天氣條件進(jìn)行使用，可以在大多數(shù)光...

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SunScan標(biāo)準(zhǔn)版植物冠層分析儀

用途：SunScan標(biāo)準(zhǔn)版植物冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan冠層分析系統(tǒng)不需要等待特殊的天氣條件進(jìn)行使用，可以在大多數(shù)光照...

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HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)

用途：HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況...

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SunScan專業(yè)版植物冠層分析儀

用途：SunScan專業(yè)版冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan冠層分析系統(tǒng)不需要等待特殊的天氣條件進(jìn)行使用，可以在大多數(shù)光照條件...

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