SC-E型大米外觀品質檢測分析儀

用途:用于各種類大米(精米、糙米、糯米等)各項外觀品質指標的精準自動檢測,可進行多參數、批量化的自動分析。

 SC-E型大米外觀品質檢測分析儀

SC-E型大米外觀品質檢測分析儀

環境條件:溫度10~30℃,相對濕度≤85%,防止強光照射。儀器應放在平穩工作臺上,周圍無強烈的機械振動和電磁干擾;電源要求220V±10%,50Hz。

特點:

· 配光學分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀來成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透掃幅面30 cm×20 cm,最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。

· 可自動一次性測量分析30g以上大米樣品的:堊白度/率、碎米率及小碎米率、整精米數量、整精米率、可直接檢測大米透明度的國標等級(國家發明專利號ZL 2013 1 0172280.X)、黃粒米、雜質量、異品種粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的裂紋率,糙米胚芽率。

· 具有自動學習與識別特性,可自動分割粘連的大米、種粒,可做自動分類分析。

· 具有樣本條碼、電子天平RS232數據軟件接口。可兼測的種粒范圍0.25-20mm,自動數粒精度≥99%,交互修正后準確率達100%。

· 自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑(長度測量誤差≤±0.05mm,長寬比測量誤差≤±0.05,重現性誤差≤±0.02;整精米率、碎米率指標測量誤差≤±1.0%、重現性誤差≤±0.25%)。

· 可大批量自動分析處理與輸出結果。與國標GB/T1350稻谷、GB/T17891優質稻谷或GB1354-2018大米、農業部新標準【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分類判定LS/T6116-2016、糧食行業標準 大米LS/T 3247—2017、GBT35881-2018糧油檢驗 稻谷黃粒米含量測定,圖像分析法等標準相對應,檢測各項指標的質量比和粒數比。

· 各分析圖像、分布圖、結果數據可保存,分析結果輸出至Excel表,可輸出分析標記圖,以及按寬度、長度、面積等輸出的排列圖和測量圖。

系統組成:

· Microtek ScanMaker i800 plus雙光源掃描儀 1臺

· 快速鋪米器 1臺

· 軟件光盤1張,軟件鎖1只

· 電腦(電腦另配)。

選配電腦推薦:品牌電腦(酷睿i5 CPU / 8G內存/ 19.5”彩顯/無線網卡,5個以上USB2.0口,運行環境Windows 10完整專業版或旗艦版)

產地:中國